测量需求半导体与液晶面板制造对工艺温度、电源电压及设备信号的稳定性极为敏感,需要在不干扰产线的前提下完成多点同步记录与事后追溯。方案构成全通道隔离输入,降低共地干扰风险多机型组合覆盖不同测点规模配合上位机软件实现长时间连续记录与数据归档提供中文技术资料与现场 / 远程调试支持